空間電荷分布測定および量子化学計算解析を用いたエポキシ樹脂のキャリアトラップ深さの評価

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI20091

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2020/12/16

タイトル(英語): Estimation of carrier trap depth in epoxy resin using a space charge distribution measurement and a quantum chemical calculation analysis.

著者名: 佐藤 孔亮(東京都市大学),斉藤 奈穂(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Kosuke Sato(Tokyo City University),Naho Saito(Tokyo City University),Hiroaki Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: 空間電荷|量子化学計算|高温高電界|トラップ深さ|エポキシ樹脂|Space Charge|Quantum chemical calculation|High temperature and High DC stress|Trap depth|Epoxy resin

要約(日本語): エポキシ樹脂は半導体の絶縁材料として高温高電界下で使用される。高温高電界下では、多量の空間電荷が材料内に蓄積し、絶縁破壊を引き起こす可能性がある。空間電荷蓄積量は材料内のキャリアのトラップ深さに依存するので、トラップ深さを評価する手法の確立が必要である。本研究では蓄積電荷減衰特性より算出したトラップ深さと、量子化学計算解析より求めたトラップ深さを比較することでエポキシ樹脂の絶縁性の評価を試みた。

要約(英語): In epoxy resins, space charge accumulation occurs at high temperature under high electric stress. Since the space charge accumulation is greatly affected by the trap depth for carriers, in this study, we tried to estimate the trap depth in epoxy resin using a space charge distribution measurement results and a quantum chemical calculation analysis.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,450 Kバイト