機器の劣化診断及び余寿命推定技術

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-S1-5

グループ名: 【D】平成18年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2006/08/21

タイトル(英語): Technology of the Diagnosis and the Life Time Estimation of Electrical Equipment

著者名: 犬島 浩(早稲田大学),吉野 久男(富士電機システムズ),山下 泉(東芝三菱電機産業システム)

著者名(英語): Hiroshi Inujima(Waseda University),Hisao Yoshino(Fuji Electric Systems Co. Ltd),Izumi Yamashita(Toshiba Mitubishi-Electric Industrial Systems Corporation)

キーワード: 劣化診断|余寿命推定|寿命管理区分|ユビキタス・コンピューティング| Diagnosis| Life-time Estimation| Life-time Management Category| Ubiquitous Computing

PDFファイルサイズ: 4,842 Kバイト