正孔注入型自己バイアスチャネルダイオードの電力損失の温度依存性

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-1

グループ名: 【D】平成18年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2006/08/21

タイトル(英語): Temperature Dependence of a power loss for Hole Injection Type Self-Biased Channel Diode

著者名: 安藤 寛人(東北学院大学),菅原 文彦(東北学院大学),大沼孝一 (東北学院大学),星 秀明(オリジン電気),山口 日出男(オリジン電気)

著者名(英語): Hiroto Ando(Tohoku Gakuin University),Fumihiko Sugawara(Tohoku Gakuin University),Koichi Ohnuma(Tohoku Gakuin University),Hideaki Hoshi(Origin Electric Corporation),Hideo Yamaguchi(Origin Electric Corporation)

キーワード: 自己バイアス|チャネルダイオード|正孔注入| Self-Bias| Channel Diode| Hole Injection

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