pinダイオードモデルにおけるライフタイム分布の影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-66

グループ名: 【D】平成21年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2009/08/31

タイトル(英語): Effect of Carrier Lifetime Zoning on pin Diode Model

著者名: 遠山 喬(東京工業大学),冨永 真志(東京工業大学),漆畑 廣明(東京工業大学),藤田 英明(東京工業大学),赤木 泰文(東京工業大学),木ノ内 伸一(三菱電機),大井 健史(三菱電機)

著者名(英語): Takashi Toyama(Tokyo Institute of Technology),Shinji Tominaga(Tokyo Institute of Technology),Hiroaki Urushibata(Tokyo Institute of Technology),Hideaki Fujita(Tokyo Institute of Technology),Hirofumi Akagi(Tokyo Institute of Technology),Shinichi Kinouchi(Mitsubishi Electric Corporation),Takeshi Oi(Mitsubishi Electric Corporation)

キーワード: pinダイオード|ライフタイム制御|パワー半導体モデリング| pin diode|Lifetime control|Power semiconductor modeling

PDFファイルサイズ: 3,504 Kバイト