デバイスモデルを用いた並列接続pinダイオードのリカバリー特性解析

カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-57

グループ名: 【D】平成22年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2010/08/23

タイトル(英語): Analysis of Reverse-Recovery Characteristics of Parallel-Connected pin Diodes Using a Physics-Based Device Model

著者名: 杉本 貴之(東京工業大学),冨永 真志(東京工業大学),漆畑 廣明(東京工業大学),藤田 英明(東京工業大学),赤木 泰文(東京工業大学),木ノ内 伸一(三菱電機),大井 健史(三菱電機)

著者名(英語): Takayuki Sugimoto(Tokyo Institute of Technology),Shinji Tominaga(Tokyo Institute of Technology),Hiroaki Urushibata(Tokyo Institute of Technology),Hideaki Fujita(Tokyo Institute of Technology),Hirofumi Akagi(Tokyo Institute of Technology),Shinichi Kinouchi(Mitsubishi Electric Co.),Takeshi Oi(Mitsubishi Electric Co.)

キーワード: 物理モデル|pinダイオード|並列接続|温度条件| Physics model|pin diode|Parallel connection|Temperature conditions

PDFファイルサイズ: 1,841 Kバイト