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高電圧高耐圧パワーデバイスの評価試験装置開発に関する基礎的検討

高電圧高耐圧パワーデバイスの評価試験装置開発に関する基礎的検討

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カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-3

グループ名: 【D】平成22年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2010/08/23

タイトル(英語): Fundamental Study for Development of Estimation System of High Temperature and High Voltage Power Electronics Devices

著者名: 河野大樹 (九州工業大学),小迫雅裕 (九州工業大学),大村一郎 (九州工業大学),匹田 政幸(九州工業大学),Thierry Lebey(ポールサバティエ大学)

著者名(英語): Hiroki Kawano(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Kozako(Kyushu Institute of Technology),Ichiro Omura(Kyushu Institute of Technology),Masayuki Hikita(Kyushu Institute of Technology),Lebey Thierry(Université Paul Sabatier)

キーワード: 高温|高耐圧|パワーデバイス| High temperature|High Voltage|Power device

PDFファイルサイズ: 1,420 Kバイト

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