確率に基づいた固定子巻線の絶縁劣化および短絡診断

カテゴリ: 部門大会

論文No: 2-60

グループ名: 【D】平成23年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2011/09/06

タイトル(英語): Diagnosis of Insulation Deterioration and Short Circuit Fault in Stator Winding Based on Probability

著者名: 中村 久栄(トーエネック),水野 幸男(名古屋工業大学)

著者名(英語): Hisahide Nakamura(TOENEC Corp.),Yukio Mizuno(Nagoya Institute of Technology)

キーワード: 診断|絶縁劣化|短絡|確率| Diagnosis|Insulation deterioration|Short circuit fault|Probability

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