電力変換回路の短絡時におけるMOSFETの特性評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-55

グループ名: 【D】平成25年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2013/08/28

タイトル(英語): Evaluation of Si- and SiC MOSFET under Short-Circuit Condition

著者名: 平田 晃介(首都大学東京),和田 圭二(首都大学東京)

著者名(英語): Kosuke Hirata(Tokyo Metropolitan University),Keiji Wada(Tokyo Metropolitan University)

キーワード: SiC|短絡試験|MOSFET| SiC|short-circuit|MOSFET

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