SiC TLC-IIチョッパ回路の損失分析評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 45661

グループ名: 【D】平成26年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2014/08/26

タイトル(英語): Evaluation of Loss Breakdown on SiC TLC-II Chopper Circuit

著者名: 弦田 幸憲(横浜国立大学),河村 篤男(横浜国立大学)

著者名(英語): Yukinori Tsuruta(Yokohama National University),Atsuo Kawamura(Yokohama National University)

キーワード: テイル損失|IGBT|SiC-MOSFET|FPGA| Tail loss|IGBT|SiC-MOSFET|FPGA

PDFファイルサイズ: 830 Kバイト