ボディ短絡型自己バイアスチャネルダイオードの逆回復特性シミュレーション

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-37

グループ名: 【D】平成26年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2014/08/26

タイトル(英語): Simulation of Reverse Recovery Characteristics for Body-Short Type Self-bias Channel Diode

著者名: 山田 大輔(神奈川工科大学),工藤嗣友 (神奈川工科大学),菅原 文彦(東北学院大学)

著者名(英語): Daisuke Yamada(Kanagawa Institute of Technology),Tsugutomo Kudoh(Kanagawa Institute of Technology),Fumihiko Sugawara(Tohoku Gakuin University)

キーワード: 自己バイアスチャネルダイオード|ボディ短絡|逆回復特性| Self-bias Channel Diode|Body-Short|Reverse Recovery

PDFファイルサイズ: 258 Kバイト