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基板実装したMOSFETのソース寄生インダクタンスの測定法

基板実装したMOSFETのソース寄生インダクタンスの測定法

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-62

グループ名: 【D】平成28年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2016/08/30

タイトル(英語): A Measurement Method of Parastic Source Inductance for MOSFET Mounted on the PCB

著者名: 相川 恭汰(岡山大学),梅谷 和弘(岡山大学),平木 英治(岡山大学)

著者名(英語): Kyota Aikawa|Kazuhiro Umetani|Eiji Hiraki

キーワード: ソース寄生インダクタンス|MOSFET|測定|基板実装, parastic source inductance|MOSFET|measurement|PCB mounting

PDFファイルサイズ: 704 Kバイト

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