走査型プローブ顕微鏡を用いた金属ナノ粒子内包有機半導体膜のナノスケール観測

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-73

グループ名: 【D】平成28年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2016/08/30

タイトル(英語): Surface property measurements of metal nano-particles containing thin film by Scanning probe microscope

著者名: 望月 翔太(千葉工業大学),佐藤 宣夫(千葉工業大学)

著者名(英語): Shouta Mochizuki|Nobuo Satoh

キーワード: 有機半導体|金属ナノ粒子|走査型プローブ顕微鏡|ナノスケール, Organic semiconductor|Metal nano-particle|Scanning probe microscope|Nano-scale

PDFファイルサイズ: 370 Kバイト