1
/
の
1
電流可視化装置による不導通欠陥部を有した模擬基板の観測
電流可視化装置による不導通欠陥部を有した模擬基板の観測
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 部門大会
論文No: Y-80
グループ名: 【D】平成28年電気学会産業応用部門大会講演論文集
発行日: 2016/08/30
タイトル(英語): Observation of an imitation substrate with defect point by electric current visualization system
著者名: 池田 新平(千葉工業大学),薮本 海(千葉工業大学),佐藤 宣夫(千葉工業大学),美馬 勇輝(神戸大学),木村 建次郎(神戸大学)
著者名(英語): Shinpei Ikeda|Kai Yabumoto|Nobuo Satoh|Yuki Mima|Kenjiro Kimura
キーワード: 可視化|非破壊検査|電磁気, visualization|nondestructive inspection|Electromagnetism
PDFファイルサイズ: 425 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
