太陽電池モジュール内ショットキーバリアダイオードの模擬誘導雷による絶縁破壊特性

カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-79

グループ名: 【D】平成29年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2017/08/29

タイトル(英語): Dielectric Breakdown Property caused by the Simulated Induced Lightning

著者名: 濱田 俊之(宇部工業高等専門学校),山本 稜之(宇部工業高等専門学校),南野 郁夫(宇部工業高等専門学校),桶 真一郎(津山工業高等専門学校),石倉 規雄(米子工業高等専門学校),藤井 雅之(大島商船高等専門学校)

著者名(英語): Toshiyuki Hamada|Takayuki Yamamoto|Ikuo Nanno|Shinichiro Oke|Norio Ishikura|Masayuki Fujii

キーワード: 太陽光発電システム|誘導雷|バイパスダイオード, Photovoltaics system|Induced lightning|Bypass diode

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