パワーエレクトロニクス教育用スイッチング試験装置の開発とその評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: 1-117

グループ名: 【D】平成29年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2017/08/29

タイトル(英語): Development and Evaluation of Switching Test Circuits for Education Program on Power Electronics

著者名: 小原 秀嶺(横浜国立大学),河村 篤男(横浜国立大学)

著者名(英語): Hidemine Obara|Atsuo Kawamura

キーワード: スイッチング特性|ダブルパルス試験|Si-IGBT|SiC-MOSFET, switching characteristic|double pulse test|Si-IGBT|SiC-MOSFET

PDFファイルサイズ: 1,373 Kバイト