原子間力顕微鏡を用いた有機薄膜のナノスケール観測

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-69

グループ名: 【D】平成29年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2017/08/29

タイトル(英語): Nanoscale measurement of organic thin film using by Atomic force microscopy

著者名: 望月 翔太(千葉工業大学),佐藤 宣夫(千葉工業大学),シャンムガム サラバナン(ソーナ工科大学),曽我 哲夫(名古屋工業大学)

著者名(英語): Shota Mochizuki|Nobuo Satoh|Saravanan Shanmugam|Tetsuo Soga

キーワード: 原子間力顕微鏡|有機エレクトロニクス|表面物理| Atomic force microscopy|Organic electronics|Surface physics

PDFファイルサイズ: 607 Kバイト