高速GaNスイッチング回路の高精度電圧プロービング検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: 45663

グループ名: 【D】平成30年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2018/08/28

タイトル(英語): High voltage probing for dynamic characteristics measurement of SiC and GaN

著者名: 長浜 竜(岩崎通信機),髙木 茂行(東京工科大学)

著者名(英語): Ryu Nagahama|Shigeyuki Takagi

キーワード: 差動測定|動的特性|波形歪み|シングルエンドプローブ, Differential measurement|Dynamic characteristics|Waveform distortion|Singleended Probe

PDFファイルサイズ: 387 Kバイト