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3.3kV HEECS用チョッパ単体試作およびDAB動作確認試験

3.3kV HEECS用チョッパ単体試作およびDAB動作確認試験

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 45678

グループ名: 【D】平成30年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2018/08/28

タイトル(英語): Preceding Fabrication and Test Verification of 3.3kV HEECS Chopper prototype

著者名: 弦田 幸憲(横浜国立大学),小原 秀嶺(横浜国立大学),河村 篤男(横浜国立大学)

著者名(英語): Yukinori Tsuruta|Hidemine Obara|Atsuo Kawamura

キーワード: 光ファイバー絶縁ゲート回路|高電圧SiC-MOSFET|DABコンバータ, Gate circuit insulated by Optical Fiber|High voltage SiC-MOSFET|DAB converter

PDFファイルサイズ: 1,409 Kバイト

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