1
/
の
1
太陽電池モジュール用BPDの誘導雷サージによる直列接続絶縁破壊試験
太陽電池モジュール用BPDの誘導雷サージによる直列接続絶縁破壊試験
通常価格
¥440 JPY
通常価格
セール価格
¥440 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 部門大会
論文No: 1-80
グループ名: 【D】平成30年電気学会産業応用部門大会講演論文集
発行日: 2018/08/28
タイトル(英語): Dielectric Breakdown Test of Series Connection By Induced Lightning Surge of BPD for PV Module
著者名: 大原 圭一郎(宇部工業高等専門学校),志賀 滉大(宇部工業高等専門学校),南野 郁夫(宇部工業高等専門学校),濱田 俊之(宇部工業高等専門学校),桶 真一郎(津山工業高等専門学校),石倉 規雄(米子工業高等専門学校),藤井 雅之(大島商船高等専門学校)
著者名(英語): Keiichiro Ohara|Kodai Shiga|Ikuo Nanno|Toshiyuki Hamada|Shinichiro Oke|Norio Ishikura|Masayuki Fujii
キーワード: バイパスダイオード|誘導雷|直列接続, bypass diode|induced lightning|series connection
PDFファイルサイズ: 435 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
