超接合構造を持つ集積化トレンチゲート型自己バイアスチャネルダイオードのシミュレーション

カテゴリ: 部門大会

論文No: Y-35

グループ名: 【D】2019年電気学会産業応用部門大会講演論文集

発行日: 2019/08/20

タイトル(英語): Simulation of Integrated Trench Gate Type Self-Biased Channel Diode with Super Junction Structure

著者名: 對馬 広隆(東北学院大学),工藤 嗣友(神奈川工科大学),菅原 文彦(東北学院大学)

著者名(英語): Hirotaka Tsushima|Tsugutomo Kudoh|Fumihiko Sugawara

キーワード: 自己バイアスチャネルダイオード|超接合構造|トレンチゲート型|集積化, Self-biased Channel Diode|Super Junction Structure|trench gate type|Integration

PDFファイルサイズ: 495 Kバイト