バイアスオフセット技術を用いたトランスコンダクタの線形性改善手法の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT05013

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会

発行日: 2005/01/21

タイトル(英語): A Study of a Technique to Improve Linearity of Transconductor Using Bias Offset Technique

著者名: 山口 勇(防衛大学校),猪妻 誠(防衛大学校),松元 藤彦(防衛大学校),野口 泰明(防衛大学校)

著者名(英語): Isamu YAMAGUCHI(National Defense Academy),Makoto IZUMA(National Defense Academy),Fujihiko MATSUMOTO(National Defense Academy),Yasuaki NOGUCHI(National Defense Academy)

キーワード: アナログ集積回路|トランスコンダクタ|線形回路|CMOS|移動度の低下

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 665 Kバイト