ひずみ測定ブリッジ回路の寄生容量影響の除去手法

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT06028

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会

発行日: 2006/03/30

タイトル(英語): High-Precision Strain Measurement Bridge Circuit With On-line Calibration of Parasitic Parasitic Capacitance Effects

著者名: 須永 浩誌(群馬大学工学部 電気電子工学科),光野正志 (群馬大学工学部 電気電子工学科),田浦 哲也(群馬大学工学部 電気電子工学科),木村 圭吾(群馬大学工学部 電気電子工学科),小林 春夫(群馬大学工学部 電気電子工学科),森村 正直(㈱東京測器研究所),岡野 晴樹(㈱東京測器研究所),岩崎 正美(㈱東京測器研究所),宅野 弘行(㈱東京測器研究所),鈴木 正光(㈱東京測器研究所)

著者名(英語): Hiroshi SUNAGA(Electronic Engineering Department,Faculty of Engineering,Gunma University),Masashi KONO(Electronic Engineering Department,Faculty of Engineering,Gunma University),Tetsuya TAURA(Electronic Engineering Department,Faculty of Engineering,Gunma University),Keigo KIMURA(Electronic Engineering Department,Faculty of Engineering,Gunma University),Haruo KOBAYASHI(Electronic Engineering Department,Faculty of Engineering,Gunma University),Masanao MORIMURA(Consultant),Haruki OKANO(Tokyo),Masami IWASAKI(Tokyo),Hiroyuki TAKUNO(Tokyo),Masamitsu Suzuki(Tokyo)

キーワード: ひずみ測定|ひずみゲージ|ブリッジ回路|校正

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 928 Kバイト