ノイズによる電子機器の性能低下と近傍放射との比較

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT06076

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会

発行日: 2006/09/12

タイトル(英語): Comparison of Performance Degradation and Near Field Emission in Electronic Equipment

著者名: 大久保 義和(拓殖大学大学院),高橋 丈博(拓殖大学),作左部 剛視(拓殖大学),澁谷 昇(拓殖大学)

著者名(英語): Yoshikazu Ohkubo(Graduate School of Takushoku University),Takehiro Takahashi(Takushoku University),Takashi Sakusabe(Takushoku University),Noboru Schibuya(Takushoku University)

キーワード: 電子機器|EMC|性能低下|イミュニティ|近傍放射|内部電磁干渉

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,205 Kバイト