プロセス開発・設計におけるESD対策の基本

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT08029

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門　電子回路研究会

発行日: 2008/03/27

タイトル(英語): Fundamental ESD Protection Strategies in Process Development and Circuit Design

著者名: 加藤 一洋(東芝)

著者名(英語): Kazuhiro Kato(Toshiba Corporation)

キーワード: 静電気放電|ESD|ESD試験|設計ウィンドウ|保護素子|プロセス開発|設計|Electro-Static Discharge|ESD|ESD Test|Design Window|Protection Device|Process Development|Design

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 750 Kバイト