BJTの低周波ノイズ源の物理モデル - Self-Switching Pipe (SSP) モデルの詳細 -
BJTの低周波ノイズ源の物理モデル - Self-Switching Pipe (SSP) モデルの詳細 -
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: ECT08074
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会
発行日: 2008/10/23
タイトル(英語): Physical Model of a Low-Frequency Noise Source generated in BJT -Details of Self-Switching Pipe model-
著者名: 野依 一正(北九州産業学術推進機構)
著者名(英語): Kazumasa Noyori(FAIS)
キーワード: 1/f ノイズ|発生・再結合電流|パイプ|キャリアコンバージョン|界面|凹凸|1/f noise|GR current|pipe|carrier conversion|interface|concavo-convex
要約(日本語): 前稿ECT-08-072及びECT-08-073での研究成果等から、バイポーラトランジスタ(BJT)のノイズ源となっているパイプの詳細な構造や発生・再結合電流(GR電流)とノイズ電流との関係を明らかにした。その結果、パイプ内に収縮している格子間シリコンがGRセンターを形成し、そのうちリンの増速拡散領域にあるものが1/fノイズ源となっていること等メカニズムの詳細を突き止め、低周波ノイズ源の物理モデルとして提案する。
要約(英語): In a concentrated area of the expansion stress in the pipe, the interstitial silicon atoms generate innumerable states in the prohibited band gap. The carrier conversions between electrons and holes generate through states in the prohibited band gap, and
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 809 Kバイト
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