発振器の位相雑音耐性の簡易評価による回路設計検証
発振器の位相雑音耐性の簡易評価による回路設計検証
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: ECT08094
グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会
発行日: 2008/11/13
タイトル(英語): Simple Oscillator Phase Noise Robustness Experiment of Circuit Design Verification
著者名: 島健(神奈川大学),草賀貴志(富士通テレコムネットワークス株式会社)
著者名(英語): Takeshi Shima()
キーワード: 位相雑音|簡易回路設計検証|強靭性|Phase Noise|Simple circuit evaluation|Robustness
要約(日本語): 多くの通信機器の変復調機能は,発振器の位相雑音性能に大きく依存している.変復調に用いられる発振器は電圧制御可能な発振器である.さらに,位相シフトキーイング変復調、ハートレーのイメージ除去法、ダイレクト変復調、低IF変復調等の機能を実現にはクオドラチャー発振器が必要となる.こうした背景と,集積回路に適していることから,近年CMOS発振器が注目されている.CMOSインバーターを用いたクオドラチャー発振器については最近,増幅器をCMOSインバータとした低雑音2段クオドラチャーリング発振器が提案された.さらに,こ
要約(英語): Quadrature oscillators are effective for clock recovery circuits, complex signal processing, etc. In this report, the new quadrature oscillator circuit evaluation method is proposed.
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 426 Kバイト
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