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発振器の位相雑音耐性の簡易評価による回路設計検証

発振器の位相雑音耐性の簡易評価による回路設計検証

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT08094

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2008/11/13

タイトル(英語): Simple Oscillator Phase Noise Robustness Experiment of Circuit Design Verification

著者名: 島健(神奈川大学),草賀貴志(富士通テレコムネットワークス株式会社)

著者名(英語): Takeshi Shima()

キーワード: 位相雑音|簡易回路設計検証|強靭性|Phase Noise|Simple circuit evaluation|Robustness

要約(日本語): 多くの通信機器の変復調機能は,発振器の位相雑音性能に大きく依存している.変復調に用いられる発振器は電圧制御可能な発振器である.さらに,位相シフトキーイング変復調、ハートレーのイメージ除去法、ダイレクト変復調、低IF変復調等の機能を実現にはクオドラチャー発振器が必要となる.こうした背景と,集積回路に適していることから,近年CMOS発振器が注目されている.CMOSインバーターを用いたクオドラチャー発振器については最近,増幅器をCMOSインバータとした低雑音2段クオドラチャーリング発振器が提案された.さらに,こ

要約(英語): Quadrature oscillators are effective for clock recovery circuits, complex signal processing, etc. In this report, the new quadrature oscillator circuit evaluation method is proposed.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 426 Kバイト

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