内部雑音による比較器の誤判定を修正できる小規模逐次比較型ADC変換回路

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT10085

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2010/10/28

タイトル(英語): Small-Area Successive Approximation ADC with correction of comparator error due to internal noise

著者名: 瀬川 健太郎(豊橋技術科学大学),和田 和千(豊橋技術科学大学)

著者名(英語): Segawa Kentaro(Toyohashi University of Technology),Wada Kazuyuki(Toyohashi University of Technology)

キーワード: 逐次比較型ＡＤＣ|内部雑音|二分探索アルゴリズム|Successive Approximation ADC|Internal Noise|Binary Search Algorithm

要約(日本語): 逐次比較型ADC回路の内部雑音の影響で生ずる出力コードのばらつきに対し，回路規模を増大させることなく改善できる変換アルゴリズムと構成を提案している．内部雑音による比較器の判定誤りを後のクロックで再判定して修正させると変換時間が二分探索法の二倍に増大してしまうという問題を解決するため，低精度の比較器を利用して不必要な変換ステップを削減している．シミュレーションにより二分探索法より出力コードのばらつきを減少出来ていることを確認している．

要約(英語): Conversion scheme of successive approximation analog-to-digital convertor to decrease deviation of output codes due to internal noise at the cast of little increnent of circuit area is proposed. To resolve a problem that correcting comparision error by comparing twice results in double conversion time, unneccessary conversion steps are found by simple comparators and omitted. Simulation resluts show that the proposed scheme reduces the output deviation of the convertional ones including that based on the binary search algorythm.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 939 Kバイト