シグマデルタDAC信号発生回路でのディジタル歪補正技術

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT10087

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2010/10/28

タイトル(英語): Digital Compensation Techniques for Distortion in Sigma-Delta DAC

著者名: 山田 貴文(群馬大学),若林 和行(群馬大学),上森 聡史(群馬大学),小林 修(半導体理工学研究センター),加藤 啓介(群馬大学),小林 春夫(群馬大学)

著者名(英語): Yamada Takafumi(Gunma University),Wakabayashi Kazuyuki(Gunma University),Uemori Satoshi(Gunma University),Kobayashii Osamu(Semiconductor Technology Academic Research Center),Kato Keisuke(Gunma University),Kobayashi Haruo(Gunma University)

キーワード: シグマデルタＤＡＣ|信号発生|ディジタル補正|歪み|ＬＳＩ試験|ディジタル・アシスト・アナログ・テスト技術|Sigma-Delta DAC|Signal Generation|Digital Compensation|Distortion|LSI Testing|Digitally-Assisted Analog Test Technology

要約(日本語): 半導体デバイス試験のための、単一正弦波または2トーン信号発生用シグマデルタDAC回路で、デジタル入力を工夫することで最終段のマルチビットDAC,　アナログフィルタの非線形性をプリデストーションすることで高調波、相互変調歪をキャンセルする技術を発表する。

要約(英語): This paper describes digital compensation techniques for distortion (caused by nonlinearityes of multibit DAC and analog filter)in Sigma-Delta DACs, which are targeted for single or two-tone sine wave signal of LSI testing.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,030 Kバイト