任意波形発生器を用いたノイズシェーピング技術

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT12085

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2012/10/05

タイトル(英語): Noise-Shaping Technique with Arbitrary Waveform Generator

著者名: 村上 正紘(群馬大学),新井 薫子(群馬大学),Mohyar Shaiful(群馬大学),安部 文隆(群馬大学),加藤 啓介(群馬大学),小林 春夫(群馬大学),松浦 達治(群馬大学),小林 修(半導体理工学研究センター),新津 葵一(群馬大学),高井 伸和(群馬大学)

著者名(英語): Murakami Masahiro(Gunma University),Arai Yukiko(Gunma University),Mohyar Shaiful(Gunma University),Abe Fumitaka(Gunma University),Kato Keisuke(Gunma University),Kobayashi Haruo(Gunma University),Matsuura Tatsuji(Gunma University),Kobayashi Osamu(Semiconductor Technology Academic Research Center (STARC)),Niitsu Kiichi(Gunma University),Takai Nobukazu(Gunma University)

キーワード: 任意波形発生器|ノイズシェープ|信号生成|ＬＳＩ試験|Arbitrary Waveform Generator|Noise-Shaping|Signal Generation|LSI Testing

要約(日本語): この論文では任意波形発生器(Arbitrary Waveform Generator: AWG)から高S/N比のADCテスト信号(正弦波、2トーン、マルチトーン信号等)を発生させる際に、内部DACの量子化誤差等のノイズをローパス，バンドパスの形でノイズシェープする手法を提案する。提案手法はAWG内のDSP部のプログラム(または波形メモリのデータ)の変更のみでよい。数値シミュレーションによりこれらの動作確認を行い、効果を検証した。

要約(英語): This paper describes a technique for generating pure single and multi-tone signals, for testing an ADC using an arbitrary waveform generator (AWG). We propose here to use DSP algorithms to precompensate for the quantization noise with lowpass and /or multi-bandpass noise-shaping.. Theoretical analysis and simulation results show the effectiveness of this approach.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 8,797 Kバイト