DUTボード上で高速高精度ミックスト・シグナル測定を可能にするほぼ名刺半分の計測ユニットの開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT13037

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2013/03/07

タイトル(英語): A development of high speed, high precision mixed signal measurement units on approximate half size of a credit card

著者名: 菅原 光俊(シスウェーブ,東京工業大学),冨滿 康治(シスウェーブ)

著者名(英語): Sugawara Mitsutoshi(Syswave Corp. & Tokyo Institute of Technology),Tomimitsu Yasuharu(Syswave Corp.)

キーワード: ミックスト・シグナル|アナログ|測定|ＬＳＩテスタ|ＤＵＴボード|mixed signal|analog|measurement|LSI tester|DUT board

要約(日本語): ほぼ名刺半分のサイズのRF, ベースバンド, ADC, DAC等のミックス・シグナル測定ユニットを開発した。LSIテスタのDUTボード上で、DUTのごく近傍に配置出来るので、ボードのロスやノイズの影響等を最小限に留められる。

要約(英語): We have successfully developed mixed signal measuring units for RF, base band, ADC & DAC signals on approximate half of a credit card. The units can be located very close to devices under test (DUT) on a DUT board of LSI tester as analog test heads, and they help better signaling, less loss, less noise, and less cost.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 988 Kバイト