ΔΣ変調における積分器のリークによるアイドルトーンの抑制とS/N劣化の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT14016

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2014/01/23

タイトル(英語): A study of avoiding idle tone and assuring SNR performance by integrator leakage in delta-sigma modulation

著者名: 牧嶋 亮(青山学院大学),松谷 康之(青山学院大学),井岡 惠理(青山学院大学)

著者名(英語): Ryo Makishima(Graduate school of Aoyama Gakuin University),Yasuyuki Matsuya(Graduate school of Aoyama Gakuin University),Eri Ioka(Aoyama Gakuin University)

要約(日本語): 以前の我々の研究で2次ΔΣ変調器において、ディザ信号を用いずにアイドルトーンを抑制するために積分器のリークを変化させることが有効であることを明らかにしたが、S/Nは劣化した。したがって、本研究では高いS/Nとトーンの抑制を両立させるために帰還率を変化させた場合のS/Nについて検証した。その結果、パラメータの組み合わせにより、無信号入力時でもトーンを抑制し、S/N劣化を3[dB]以内に抑えた。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,144 Kバイト