β変換器の性能に関する考察: β推定誤差の影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT14024

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2014/01/24

タイトル(英語): On the Performance of a beta-Encoder: the Effect of the Estimation Error of beta-Value

著者名: 篠原 克寿(科学技術振興機構),牧野 貴樹(東京大学),岩田 友紀子(気象大学校),實松 豊(九州大学),傘 昊(東京都市大学),堀田 正生(東京都市大学),合原 一幸(東京大学)

著者名(英語): Katsutoshi SHINOHARA(Japan Science and Technology Agency),Takaki MAKINO(The University of Tokyo),Yukiko IWATA(Meteorological College),Yutaka JITSUMATSU(Kyushu University),Hao SAN(Tokyo City University),Masao HOTTA(Tokyo City University),Kazuyuki AIHARA(The University of Tokyo)

キーワード: β展開|β写像|Ａ／Ｄ変換器|量子化誤差|平均二乗誤差|β-expansion|β-map|A/D converter|quantization error|mean squared error

要約(日本語): ベータ展開とは，実数を通常の2進数展開ではなく，2以外の実数を底として展開する方法である．ベータ展開に基づいたA/D変換機は近年そのロバスト性により注目を集めている．本講演では，ベータ変換機が実際の変換機の内部のベータ（真の値）ではなく，誤差を含むベータ（推定された値）でデコードした場合の変換の品質劣化に対して，解析的な評価を与えるという問題を考察する．

要約(英語): The β-expansion is a method of expanding a real number with a radix β which is not necessarily an integer but a general real number. The analog-digital converters based on this expansion gathers attention recently because of its robustness against noises. In this talk, we consider the problem of establishing the analytic estimation of the adulteration of the encoding quality of such encoders when some of the internal parameters are perturbed. In particular, we focus on the effect of the perturbation of the β-value.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 995 Kバイト