任意波形発生器を用いた低歪み信号発生技術の実用化検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT14032

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2014/01/24

タイトル(英語): Technique of Low Distortion Signal Generation with Arbitrary Waveform Generator

著者名: 安部 文隆(群馬大学),澤田 健士(群馬大学),小林 春夫(群馬大学),小林 修(半導体理工学研究センター)

著者名(英語): Fumitaka Abe(Gunma University Graduate School),Kenji Sawada(Gunma University),Haruo Kobayashi(Gunma University Graduate School),Osamu Kobayashi(Semiconductor Technology Academic Research Center)

キーワード: ＡＤＣテスト|低歪み|任意波形発生器|ADC Testing |Low Distortion|Arbitrary Waveform Generator

要約(日本語): 提案した任意波形発生器を用いた低歪み正弦波信号発生技術で実際にADCの3次高調波の高精度測定が可能であることを示す。この低歪み信号を用いることにより従来の正弦波信号に対し、任意波形発生器内部で発生する3次高調波を抑制することができる。この低歪み信号をLPFに通してADCの3次高調波歪みの測定を行った。従来信号に対し、今回提案した信号の方がADCの3次高調波検出の際に精度よく検出できる見通しを立てることができた。

要約(英語): This paper presents experimental verification of ADC testing with the proposed low-distortion signal generation method using an arbitrary waveform generator followed by a simple LC low-pass analog filter. The measurement results show that this method is effective for high accuracy ADC testing.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,493 Kバイト