CMOS乱数発生器における準安定点からの分岐に関する考察

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT14049

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2014/03/07

タイトル(英語): A study on CMOS Random Number Generator bifurcation

著者名: 杉本 圭康(神奈川大学),島 健(神奈川大学)

著者名(英語): Yoshiyasu Sugimoto(Kanagawa University),Takeshi Shima(Kanagawa University)

キーワード: ＣＭＯＳ|準安定|CMOS|metastable

要約(日本語): CMOS乱数発生器において、出力される値(0,1)の発生確率が等確率になるための条件について報告する。

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 590 Kバイト