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ストライプドインダクタを用いたCMOS LC VCO の位相雑音改善に関する研究

ストライプドインダクタを用いたCMOS LC VCO の位相雑音改善に関する研究

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT15001

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2015/01/22

タイトル(英語): A Study on the Improvement of Phase Noise of CMOS-LC VCO using Striped Inductor

著者名: 辻 大輝(岡山県立大学),板野 由佳(岡山県立大学/東芝セミコンダクタ&ストレージ社),小椋 清孝(岡山県立大学),森下 賢幸(岡山県立大学),吉冨 貞幸(東芝セミコンダクタ&ストレージ社),伊藤 信之(岡山県立大学)

著者名(英語): Hiroki Tsuji(Okayama Prefectural University),Yuka Itano(Okayama Prefectural University/Semiconductor and Storage Company, Toshiba Corporation),Kiyotaka Komoku(Okayama Prefectural University),Takayuki Morishita(Okayama Prefectural University),Sadayuki Yoshitomi(Semiconductor and Storage Company, Toshiba Corporation),Nobuyuki Itoh(Okayama Prefectural University)

キーワード: 電圧制御発振器|位相雑音|ミリ波|表皮効果|コーナー周波数|voltage-controlled oscillators|phase noise|millimeter wave|skin effect|corner frequency

要約(日本語): ミリ波領域におけるCMOS-LC発振器の位相雑音の改善についての研究を行った。インダクタのQ値は、周波数に比例して向上するが、高周波領域において、その向上は表皮効果によって抑制される。本研究では、表皮効果の影響を受けにくいストライプ構造のインダクタを用いた発振器の位相雑音改善を検討し、その改善度を、発振周波数と回路構成の異なる三種の発振器の位相雑音を測定することにより確認した。

要約(英語): Improvement of phase noise of CMOS-LC VCO in millimeter wave has been studied. In this work, we have examined the improvement of phase noise by suppression of the skin effect using striped inductor. These improvements were confirmed by measured three oscillator phase noise which have different oscillation frequencies and different circuitry.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 974 Kバイト

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