ナイキスト線図を用いたオペアンプ安定性設計

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT15046

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2015/07/02

タイトル(英語): OPAMP stability design using Nyquist plot

著者名: 源代 裕治(ソニー)

著者名(英語): Yuji Gendai(Sony Corporation)

キーワード: オペアンプ|安定性|ナイキスト線図|ノイズ|一巡伝達関数|バルクハウゼンの条件|op-amp|stability|Nyquist plot|noise|open loop transfer function|Barkhausen criterion

要約(日本語): オペアンプの安定性設計ではボード線図が専ら用いられているが、制御理論で用いられるナイキスト線図と併用すると有用なことが分かって来た。オペアンプの負入力側に独立電源を挿入してAC解析を行うことで、ナイキスト線図を描く。位相余裕確認用に別回路を用意する必要はない。ナイキスト線図が複素平面上、点-1に最接近する距離が安定性の目安となる。ボード線図で、その周波数と大きさを定量化できる。

要約(英語): The op amp stability is usually judged by Bode plots. We found Nyquist plots are also useful. A voltage source at the negative input of the op amp and a standard AC analysis provides the Nyquist plot. The minimum distance from the point -1 indicates the stability.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,217 Kバイト