有明高専におけるLSI設計・試作検証・計測システム開発を通じた技術者教育の取り組み

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT17012

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2017/01/20

タイトル(英語): Approach to engineering education through LSI design, verification and measurement system development

著者名: 川添 浩太朗(有明工業高等専門学校),谷口 幹(有明工業高等専門学校),吉野 託未(有明工業高等専門学校),大塩 悠貴(佐賀大学),野口 卓朗(佐賀大学),深井 澄夫(佐賀大学),清水 暁生(有明工業高等専門学校),石川 洋平(有明工業高等専門学校)

著者名(英語): Kotaro Kawazoe(National Institute of Technology, Ariake College(NITAC)),Motoki Taniguchi(National Institute of Technology, Ariake College(NITAC)),Takumi Yoshino(National Institute of Technology, Ariake College(NITAC)),Yuki Oshio(Saga University),Takuro Noguchi(Saga University),Sumio Fukai(Saga University),Akio Shimizu(National Institute of Technology, Ariake College(NITAC)),Yohei Ishikawa(National Institute of Technology, Ariake College(NITAC))

キーワード: アナログＬＳＩ設計教育|演算増幅器設計|高専|自動計測システム|Analog LSI design education|Operational amplifier design|National Institute of Technology (NIT)|Auto measurement system

要約(日本語): 　近年、電子回路技術業界においてアナログLSI設計技術者が不足しており、高専・大学等の研究教育機関では効率的なアナログ回路設計教育システムの検討が行われている。有明高専では、2006年から演算増幅器の設計と自動計測システムを用いた試作検証を重視した教育を行ってきた。本稿では、有明高専でのLSI設計技術者教育の取り組みと、直面している諸問題、および今後の展望について述べる。

要約(英語): Recently, many institutions of higher education examine efficient analog LSI design education. In National Institute of Technology, Ariake College (NITAC), education emphasized operational amplifier design and verification using measurement system have carried out since 2006. In this paper we describe analog LSI design education effort, facing problem and future prospects in NITAC.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,101 Kバイト