全差動列回路によるイメージセンサー性能向上の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT17038

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2017/03/09

タイトル(英語): Examination of the imager improvement with fully differential column circuits

著者名: 波多野 雄一朗(キヤノン),菊池 伸(キヤノン),鈴木 淳士(キヤノン),吉田 大介(キヤノン),新谷 悟(キヤノン)

著者名(英語): yuuichiro hatano(Canon Inc.),shin kikuchi(Canon Inc.),atsusi suzuki(Canon Inc.),daisuke yoshida(Canon Inc.),satoru shingai(Canon Inc.)

キーワード: 差動信号処理|イメージセンサー|列回路|水平パタンノイズ|外乱|differential signal processing|image sensor|column circuit|transeversal pattan noise|fluctuation of reference voltage

要約(日本語): イメージセンサーの高感度化に伴い微弱な基準信号、電源、磁場の変動が横方向のパタンノイズとして画質を劣化させる。　今回、差動信号処理を用い、上記変動に耐性の高い列回路を設計し、その効果を確認したので報告する。

要約(英語): In the high-sensitivity image sensor, the fluctuation of a reference signal, a power supply and a magnetic field causes degradation of image quality.The degradation of image quality is often observed as a transversal pattern noise.We report a column circuit having high rejection ratio for an above fluctuation, with differential signal processing.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,388 Kバイト