線形化とDEMを適用した確率的フラッシュAD変換器のLSI設計

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT18025

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2018/03/08

タイトル(英語): Design and simulation of a spurious-tone-free linearized stochastic flash ADC with DEM technique.

著者名: 杉本 俊貴(北見工業大学),谷本 洋(北見工業大学),吉澤 真吾(北見工業大学)

著者名(英語): Toshiki Sugimoto(Kitami Institute of Technology),Hiroshi Tanimoto(Kitami Institute of Technology),Shingo Yoshizawa(Kitami Institute of Technology)

キーワード: 確率的フラッシュＡＤ変換器|線形化|ＤＥＭ|比較器|オフセット電圧バラツキ|Stochastic flash ADC|linearization|DEM|comparator|offset voltage variation

要約(日本語): 微細化に伴う電源電圧低下と素子バラツキに対応できる高速なADCとしてSFADCが注目されている．本報告では，0.18um CMOSプロセスを使用して，500MS/sで動作するSFADCを設計し，シミュレーションを行った結果を報告する．その結果からSFADCの高速化における問題点を検討する．

要約(英語): SFADC has been attracting attention because of its robustness for low power supply voltage and processing variation. We have designed an SFADC-LSI operating at 500 MS/s by using a standard 0.18 um CMOS process. The simulation results are presented and discussed in view of higher speed SFADC design.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 630 Kバイト