アナログ回路の短時間・高品質試験用マルチトーン信号の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT18089

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2018/12/20

タイトル(英語): Study on Multi-tone Signals for Short Time and High Quality Testing of Analog Circuits

著者名: 柴崎 有祈子(群馬大学),浅見 幸司(群馬大学),桑名 杏奈(群馬大学),町田 恒介(群馬大学),杜 遠洋(群馬大学),八田 朱美(群馬大学),久保 和良(小山高専),小林 春夫(群馬大学)

著者名(英語): Yukiko Shibasaki(Gunma University),Koji Asami(Gunma University),Anna Kuwana(Gunma University),Kosuke Machida(Gunma University),Yuanyang Du(Gunma University),Akemi Hatta(Gunma University),Kazuyoshi Kubo(Oyama National College of Technology),Haruo Kobayashi(Gunma University)

キーワード: マルチトーン信号|アナログ集積回路テスト|信号生成|波高率|ヒルベルト変換|Multi-tone signal|Analog IC testing|Signal generation|Crest factor|Hilbert transform

要約(日本語): アナログ集積回路の複雑さが急速に進み、また車載用LSIへの需要が高くなり、ミクストシグナルSoC (System on Chip)でのアナログ回路部テストの高品質化とともに時間短縮による低コスト化が求められている。これまでアナログ回路の周波数特性テストの入力信号としてマルチトーン信号を用いることでテスト時間短縮かつ高品質テストを実現すること検討してきたが、その中で得られた知見を報告する。

要約(英語): There is a big demand for automotive LSIs, where analog circuit portion is the key. There, low cost and high quality testing of analog circuits is very important and challenging. We have investigated multi-tone signals for short-time and high quality testing of analog circuit frequency response, and in this paper we will present some results.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,358 Kバイト