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CMOSイメージセンサにおける画質に対する振幅制限回路の効果

CMOSイメージセンサにおける画質に対する振幅制限回路の効果

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT19005

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2019/01/24

タイトル(英語): Image quality improvement of CMOS image sensor with read-out signal clamp in column circuit design

著者名: 有嶋 優(キヤノン),中村 恒一(キヤノン),小林 昌弘(キヤノン),吉田 大介(キヤノン),大村 昌伸(キヤノン),白井 誉浩(キヤノン),新谷 悟(キヤノン)

著者名(英語): Yu Arishima(Canon Inc.),Kohichi Nakamura(Canon Inc.),Masahiro Kobayashi(Canon Inc.),Daisuke Yoshida(Canon Inc.),Masanobu Oomura(Canon Inc.),Takahiro Shirai(Canon Inc.),Satoru Shingai(Canon Inc.)

キーワード: CMOSイメージセンサ|画質|振幅制限|CMOS image sensor|image quality|signal clamp

要約(日本語): 近年、CMOSイメージセンサでは、高感度、低ノイズの取り組みにより高画質化が進み、低照度から高照度まで幅広い光量範囲での撮影が可能となってきている。そのため、読み出し回路性能においても幅広い光量範囲での画質向上が求められる。本報告では、CMOSイメージセンサの進化において欠かせない幅広い光量範囲での画質向上について、具体的な実例を挙げ、画質に対する振幅制限回路の効果を報告する。

要約(英語): This paper describes the image quality improvement of CMOS image sensor with read-out signal clamp in column circuit design from low to high illuminance.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,016 Kバイト

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