ランプ波切替機構を用いたCMOSイメージセンサ広ダイナミックレンジ化の検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT19038

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2019/06/21

タイトル(英語): A study of wide dynamic range CMOS image sensor using ramp wave switching mechanism

著者名: 大場 栄一(青山学院大学大学院),稲垣 雄志(青山学院大学),松谷 康之(青山学院大学)

著者名(英語): Eiichi Oba(Aoyama Gakuin University Graduate School of Science and Engineering),Yuji Inagaki(Aoyama Gakuin University),Yasuyuki Matsuya(Aoyama Gakuin University)

キーワード: ＣＭＯＳイメージセンサ|ＡＤＣ|ランプ波切替|広ダイナミックレンジ|CMOS image sensor|ADC|Ramp wave switching|Wide dynamic range

要約(日本語): CMOSイメージセンサにはダイナミックレンジの制限があり、明暗差が大きい環境において撮像画像に白飛び、黒つぶれが生じる。一般的なイメージセンサに使われるシングルスロープ型ADCのダイナミックレンジはその制限要因の一つである。本研究ではシングルスロープ型ADCの比較電位に用いるランプ波の傾きを露光量に応じて切り替える事でダイナミックレンジの拡大を図るイメージセンサを提案し、シミュレーションによって動作を確認した。

要約(英語): In this study, we proposed a CMOS image sensor that expands the dynamic range by switching the slope of the ramp wave used for the comparison voltage of the single slope ADC according to the amount of accumulated charges. We confirmed the operation and characteristics by simulation.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,162 Kバイト