DC測定用INS-SAR ADCに対するDWAの効果に関する検討

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT19041

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2019/06/21

タイトル(英語): Effect on Applying DWA to DC Measurement Purpose INS-SAR ADC

著者名: 工藤 龍平(東京理科大学),松浦 達治(東京理科大学),岸田 亮(東京理科大学),兵庫 明(東京理科大学)

著者名(英語): Ryohei Kudo(Tokyo University of Science),Tatsuji Matsuura(Tokyo University of Science),Ryo Kishida(Tokyo University of Science),Akira Hyogo(Tokyo University of Science)

キーワード: アナログ・ディジタル変換器|ＤＣ測定|インクリメンタル|マルチビットインクリメンタル|ＮＳ－ＳＡＲ|ＩＮＳ－ＳＡＲ|analog to digital converter|DC measurement|incremental|multi-bit incremental|NS-SAR|INS-SAR

要約(日本語): 本研究では従来から高分解能ＤＣ測定用に用いられているインクリメンタルＡＤＣの変換速度が原理的に高速化しにくいことを背景に高分解能ＤＣ測定ＡＤＣの高速化手法を考えた。高速化手法としてＮＳ－ＳＡＲ　ＡＤＣに着目し、構成を大きく変化させることなくインクリメンタル型で動作するＩＮＳ－ＳＡＲ　ＡＤＣを考案した。さらにＩＮＳ－ＳＡＲ　ＡＤＣについてＤＷＡを適用することで精度が向上するかを検討した。

要約(英語): Considering that incremental ADC known as high resolution DC measurement ADC is difficult to accelerate in principle, different approach is required to accelerate high resolution DC measurement ADC. We focused on using NS-SAR ADC and introduced INS-SAR ADC with minimum structural change and considered the effect of DWA.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,082 Kバイト