温度に依存しないMOS定電流源の動作と安定性解析

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT19114

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2019/12/19

タイトル(英語): Operation and Stability Analysis of Temperature-Insensitive MOS Reference Current Source Circuit

著者名: 山本 颯馬(群馬大学),Isam Ebisawa Kuswan(群馬大学),阿部 優大(群馬大学),井田 貴士(群馬大学),柴崎 有祈子(群馬大学),築地 伸和(群馬大学),桑名 杏奈(群馬大学),小林 春夫(群馬大学),鈴木 彰(（株）ジーダット),轟 祐吉(（株）ジーダット),柿木 利彦(（株）ジーダット),小野 信任(（株）ジーダット),三浦 一広(（株）ジーダット)

著者名(英語): Souma Yamamoto(Gunma University),Kuswan Isam Ebisawa(Gunma University),Yudai Abe(Gunma University),Takashi Ida(Gunma University),Yukiko Shibasaki(Gunma University),Nobukazu Tsukiji(Gunma University),Anna Kuwana(Gunma University),Haruo Kobayashi(Gunma University),Akira Suzuki(JEDAT),Yukichi Todoroki(JEDAT),Toshihiko Kakinoki(JEDAT),Nobuto Ono Kazuhiro(JEDAT),Miura(JEDAT)

キーワード: 基準電流源|ＣＭＯＳアナログ回路|温度特性|安定性|フィードバック|Reference Current Source|CMOS Analog Circuit|Temperature Characteristic|Stability|Feedback

要約(日本語): 電子回路における信頼性の問題は、主にプロセス・電源電圧変動・温度(PVT)のばらつきによって生じる。この論文は、私たちが提案した温度に依存しないMOS基準電流源回路の動作と、その回路の安定条件について、シミュレーションおよびフィードバック理論に基づいて分析する。

要約(英語): Reliability problems in electronic circuits are mainly caused by process, power supply voltage fluctuations, and temperature (PVT) variations.This paper analyzes stability condition of our proposed temperature-insensitive MOS reference current source circuit based on simulation as well as feedback theory, and shows its stability condition.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,824 Kバイト