オペアンプAC特性のFFT法による高速試験

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT19116

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2019/12/19

タイトル(英語): Fast testing of operational amplifier AC characteristics using FFT method

著者名: 荻原 岳(群馬大学),片山 翔吾(群馬大学),青木 里穂(群馬大学),中谷 隆之(群馬大学),佐藤 賢央(ローム),石田 崇(ローム),岡本 智之(ローム),市川 保(ローム),王 建龍(群馬大学),桑名 杏奈(群馬大学),畠山 一実(群馬大学),小林 春夫(群馬大学)

著者名(英語): Gaku Ogihara(Gunma University),Shogo Katayama(Gunma University),Riho Aoki(Gunma University),Takayuki Nakatani(Gunma University),Keno Sato(ROHM Co., Ltd.),Takashi Ishida(ROHM Co., Ltd.),Toshiyuki Okamoto(ROHM Co., Ltd.),Tamotsu Itikawa(ROHM Co., Ltd.),Jianlong Wang(Gunma University),Anna Kuwana(Gunma University),Kazumi Hatayama(Gunma University),Haruo Kobayashi(Gunma University)

キーワード: オペアンプ|ＡＣ特性|ＦＦＴ|マルチチャンネル測定|サミングノード|ＮＵＬＬ回路法|Operational Amplifier|AC Characteristics|FFT|Multi-channel Measurement|Summing Node|NULL Method

要約(日本語): この論文では、オペアンプのAC特性の高速テスト技術の提案とシミュレーション・実験検証を示す。反転増幅回路構成とFFT解析により、被試験オペアンプの開ループ周波数特性、PSRR、CMRRを同時に測定することを可能にした。本試験法のシミュレーションと実機測定が実施し、NULL法と同程度の試験精度を確認した。これにより等価的に試験時間短縮が可能になる。また複数の被試験オペアンプの開ループ周波数特性の同時測定が可能であることも実機で確認した。

要約(英語): This paper describes a fast testing method for operational amplifier AC characteristics. Inverse amplification configuration and FFT analysis allow simultaneous measurement of Aol, PSRR, and CMRR of the device under test. Simulation and actual machine measurement of the proposed method were carried out, and comparable accuracy with the NULL method was confirmed; this equivalently shortens the test time. In addition, we show with actual measurement results that Aol multi-channel measurement with the proposed method is possible.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,657 Kバイト