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ΔΣADCを用いた光強度測定回路の研究

ΔΣADCを用いた光強度測定回路の研究

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT20064

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2020/10/08

タイトル(英語): A study of light intensity measurement circuit using Delta-Sigma ADC

著者名: 酒光 葵(青山学院大学),稲垣 雄志(青山学院大学),松谷 康之(青山学院大学)

著者名(英語): Aoi Sakamitsu(Aoyama Gakuin University Graduate school),Yuji Inagaki(Aoyama Gakuin University),Yasuyuki Matsuya(Aoyama Gakuin University)

キーワード: ΔΣ型ADC|光センサ|電流入力ADC|Delta-Sigma ADC|Photosensor|Current input ADC

要約(日本語): フォトダイオードの直流電流出力をΔΣADCを用いて高精度にA/D変換する回路を報告している。しかしΔΣADCで直流値を変換するとリミットサイクルが発生する。これに対し、直流値の変換に対してはリミットサイクルが発生しても精度劣化が生じないことを前回報告した。本報告ではこれに対し、市販部品を用いたLTspiceシミュレーションによりアナログ性能の評価を行った。

要約(英語): We have reported the ΔΣ ADC converting the DC current of a photodiode. However, the limit cycle oscillation occurs to convert DC value. We previously reported that limit cycle does not affect accuracy by logic analysis. In this report, we evaluated the analog performance of the circuit by LTspice simulation.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 593 Kバイト

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