多端子MOSFETによるMOSFET動作特性の間接計測

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT20079

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2020/12/17

タイトル(英語): An Indirect Measurement of the MOSFET Operational Characteristics using Multi-Output MOSFET

著者名: 原田 知親(山形大学)

著者名(英語): Tomochika Harada(Yamagata University)

キーワード: 多端子ＭＯＳＦＥＴ|間接計測|Multi-output MOSFET|indirect measurement

要約(日本語): 本研究は、回路に組み込まれた状態での_x000D_ MOSFETの動作について間接的に把握するために、いままで提案してきた多端子MOSFETを用いた間接計測と評価について試みたので報告する。

要約(英語): In order to indirectly understand the operation of MOSFETs, I attempt indirect measurement and evaluation using the proposed multi-output MOSFETs.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,012 Kバイト