CMOSイメージセンサにおけるカラムADC用ランプ信号生成回路の好適な設計

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ECT20092

グループ名: 【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会

発行日: 2020/12/17

タイトル(英語): Suitable design of ramp signal generation circuit for column ADC in CMOS image sensor

著者名: 加藤 智(キヤノン),吉田 大介(キヤノン),戸塚 洋史(キヤノン),前橋 雄(キヤノン),長谷川 蒼(キヤノン),新谷 悟(キヤノン)

著者名(英語): Satoshi Kato(CANON INC.),Daisuke Yoshida(CANON INC.),Hirofumi Totsuka(CANON INC.),Yu Maehashi(CANON INC.),So Hasegawa(CANON INC.),Satoru Shingai(CANON INC.)

キーワード: ＣＭＯＳイメージセンサ|カラムＡＤＣ|クロストーク|ランプ|キックバック|CMOS image sensor|Column ADC|Crosstalk|Ramp|Kickback

要約(日本語): CMOSイメージセンサのカラムADCにおいて、シングルスロープ方式ADC用ランプ信号生成回路の好適な設計手法について述べる。コンパレータからのキックバック現象に注目して、キックバック量とランプ生成回路の定数設定の関係を明らかにするとともに、シミュレーションにてその内容を検証した結果について報告する。

要約(英語): This paper describes a suitable design method of a ramp signal generation circuit for a column ADC in CMOS image sensor. Focusing on the kickback phenomenon from the comparator, this paper clarifies the relationship between the kickback amount and the constant setting of the ramp generating circuit, and reports the result of verifying the content by simulation.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,288 Kバイト