1
/
の
1
Recent Developments on High Current Measurement Using Current Shunt
Recent Developments on High Current Measurement Using Current Shunt
通常価格
¥330 JPY
通常価格
セール価格
¥330 JPY
単価
/
あたり
税込
カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: ED06107
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電研究会
発行日: 2006/11/14
タイトル(英語): Recent Developments on High Current Measurement Using Current Shunt
著者名: Tatsuo Kawamura(University of Tokyo),Eiichi Haginomori(Chuo University),Yutaka Goda(CRIEPI),Tetsuya Nakamoto(Toshiba Corporation)
著者名(英語): Tatsuo Kawamura(University of Tokyo),Eiichi Haginomori(Chuo University),Yutaka Goda(CRIEPI),Tetsuya Nakamoto(Toshiba Corporation)
キーワード: measurement|standard|short-circuit test|high power|traceability|measurement|standard|short-circuit test|high power|traceability
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 842 Kバイト
受取状況を読み込めませんでした
