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Relation Between Surface Roughness and Number of Cathode Spots

Relation Between Surface Roughness and Number of Cathode Spots

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: ED07108

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 放電研究会

発行日: 2007/07/09

タイトル(英語): Relation Between Surface Roughness and Number of Cathode Spots

著者名: Atsushi Sato(Musashi Institute of Technology),Toru Iwao(Musashi Institute of Technology),Motoshige Yumoto(Musashi Institute of Technology)

著者名(英語): Atsushi Sato(Musashi Institute of Technology),Toru Iwao(Musashi Institute of Technology),Motoshige Yumoto(Musashi Institute of Technology)

キーワード: Cathode spot|Low pressure arc|Oxide layer|Image processing|Cathode spot|Low pressure arc|Oxide layer|Image processing

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 678 Kバイト

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